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G 电镜标准样 产品展示
扫描电镜能谱检测标样X-Checker
扫描电镜能谱检测标样X-Checker
X-Checker检测标样是第一个并且保有全系列标准物质,可以应用于监测SEM/EDS系统性能。若打算在较短时间内检测手头仪器的的性能,请选择X-Checker。
AuSome? 金颗粒校准标样(for SEM, FIB and FESEM)
AuSome? 金颗粒校准标样(for SEM, FIB and FESEM)
AuSome? 金颗粒校准标样,超高分辨率电镜校准用标样,这些已知直径的金颗粒均匀被覆在硅片上,硅片大小5x5mm,厚0.5mm。纳米呈像时作为纳米尺度,校准因为聚焦、散光、工作距离等等的微调带来的图像的偏差。
144nm高分辨2D校准标样(for AFM、STM、Auger、FIB、SEM)
144nm高分辨2D校准标样(for AFM、STM、Auger、FIB、SEM)
144nm高分辨2D校准标样,硅片大?。?*3*0.5mm,图案由铝金属制的(高度大约90nm,宽75nm,此参数无校准,注意,其图案布满硅片),2D全息阵列,间距144nm,表层喷镀钨膜,精确度±1nm。
70nm超高分辨率校准标样(for AFM、SEM、Auger和 FIB)
70nm超高分辨率校准标样(for AFM、SEM、Auger和 FIB)
条纹70nm间距,一维排列,精确到±0.25nm。分带证书和不带证书两类。提供的产品有两种型号:Model 70-1D和Model 70-1DUTC。
透射电镜校准标样MAG*I*CAL
透射电镜校准标样MAG*I*CAL
这是一个世界上最微的尺子!已经申请世界吉尼斯纪录!这个独特的校准标样直接溯源于硅晶体的晶格常数,它能用来对所有透射电镜进行三项专业的标定和校正:放大倍率、相机常数、像与衍射花样之间的磁转角。
扫描电镜线宽标样
扫描电镜线宽标样
扫描电镜测长物质常见的有两种,一种线宽标准物质,一种粒度标准物质。线宽标准物质以单晶硅为基底,表面刻制金属膜(钨或者钛)。周期性的线宽标准物质主要用于校准扫描电镜放大倍率和进行长度的比对。
纳米级微球颗粒标准品(Particle-Size Standards)
纳米级微球颗粒标准品(Particle-Size Standards)
纳米级微球颗粒标准品(Particle-Size Standards)直径大小高度均一,具有NBS 的NIST认证,属于Duke Scientific公司荣誉出品Nanosphere Size Standards?系列产品中的聚合体微球标准品(苯乙烯单体聚合而成)。
透射电镜污染率测试标样(碳粒金网)(Combined Test Specimen)
透射电镜污染率测试标样(碳粒金网)(Combined Test Specimen)
透射电镜测试标样:多孔碳薄膜覆盖在镀金的网上(直径3.05mm),石墨化的碳颗粒沉积其上。
微分析元素标样(MAC公司能谱标样)
微分析元素标样(MAC公司能谱标样)
美国MAC公司提供一流的能谱标样。用于能谱仪和波谱仪、X射线荧光分析仪、X射线分析仪等等
单晶硅标样(基准10μm)
单晶硅标样(基准10μm)
用于扫描电镜放大倍数校准(同时评估图象扭曲度),也可用于光学显微镜。5mm x 5mm见方,每10μm (0.01mm)有一方格,格与格之间分割线大约为1.9μm宽,每隔500μm有一稍宽的分隔线,用于光学显微镜检测;分隔线和方格由光蚀刻形成,约200nm深。
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